ISO Compact - Digitální měřič izolačního odporu
Digitální tester izolačních odporů
Ruční digitální tester izolačních odporů. Měření izolačních odporů do 200 MΩ. Zkušební napětí do 5100 V. Měření napětí do 700 V AC/DC.
Dostupnost: Prodej ukončen

Ing. Ivana Pallová
Technicko-obchodní specialistka testovacích a měřicích přístrojů FLUKE, CHAUVIN ARNOUX, METRIX, MULTIMETRIX, AMPROBE, BEHA, MEGABRAS, HIKMICRO a ostatní.
Popis výrobku
- Měření izolačních odporů do 200MΩ
- Zkušební napětí 500V
- Voltmetr AC/DC do 700V
- Kompaktní malé provedení s měřicími vodiči
- AUTO ON / OFF
- Prosvícený displej
- Odpružené měřicí hroty s ochranou proti sklouznutí
Technické údaje
Parametry
Typ | Digitální |
---|---|
Bargraf | |
Zkušební napětí Uzk | 500 V |
Zobrazení sk. hodnoty Uzk | |
Měření izol. odporu | 10 kΩ … 200 MΩ |
Rozsah měření U AC | 1 V … 700 V |
Rozsah měření U DC | 1 V … 700 V |
Unikající proudy | |
Index polarizace PI | |
Koef. diel. absorbce DAR | |
Koef. vybíjení dielektrika DD | |
Kapacita | |
Teplota | |
Odpor | |
Test propojení (200 mA) | |
Zobrazení průběhu R(t) | |
Vyhlazení | |
Automatické vybití | |
ALARM | |
Časovač | |
Podsvětlený displej | |
Dobíjecí baterie | |
Paměť | |
Rozhraní | |
Stupeň krytí IP | 40 |
Ex provedení |
Soubory ke stažení
Mohlo by vás zajímat
Události

12.11.2025
Zveme Vás na 68. konferenci elektrotechniků Solid Team, která proběhne dne 12. listopadu 2025 ve Šternberku. Přijďte načerpat aktuální odborné znalosti, setkat se s odborníky a prozkoumat novinky...
Mimořádné akce

01.09.2025 - 31.12.2025
Získejte dárek zdarma k nákupu top produktů Chauvin Arnoux.
Přístroje společnosti Chauvin Arnoux již více než 130 let pomáhají udržovat náš elektrický svět bezpečný a spolehlivý. Ve spolupráci s...
Novinky

06.10.2025
Nová generace termo-hygrostatu STEGO ETF 012 – úspora místa, rychlá instalace a spolehlivá ochrana.
Odborné články

08.09.2025
Rostoucí náklady na elektřinu trápí firmy i správce budov. Znáte sice celkový účet, ale mnohdy už nevíte, kde a proč se energie ztrácí. A právě v tom je rozdíl mezi pouhým měřením a skutečným řešením....